1. 충격에 강한 서지에 저항하는 낮은 누설. 2. 고속 전환 스위치 반응, 40ns의 역 회복 시간. 3. 높은 내열성, PN 접합 온도 피크 150℃ 4. 환경 친화적 인 프로세스, 국제 표준 5. 내식성 표면이있는 에폭시 수지 성형 진공 패키지 사용

1. 다이 칩 어셈블리 생산을위한 국제적인 최신 기술 채택 2. 낮은 누설 전류, 저전력, 높은 신뢰성. 3. 순시 고전류에 대한 내 충격성이 우수합니다. 4. 역 눈사태 파손. 5. 작동 온도 -40 oC. ~ + 130 oC .. 6. 다양한 크기 또는 사용자 정의 7. 고전압 정류기, 절연 및 회로 보호 효과.

1. 낮은 누설, 서지 저항, 충격에 강한. 2. 고속 전송 스위치 반응, 역 회복 시간 75ns. 3. 높은 내열성, PN 접합 온도 피크 130 ℃ 4. 환경 친화적 인 공정, 국제 규격 5. 부식 방지 표면을 가진 에폭시 수지 성형 진공 패키지 사용

1. 각종 크기는 주문을 받아서 만들어지고, 임명 및 배선은 쉽다 2. 낮은 순방향 전압 강하, 낮은 누설 전류 3. 눈사태 고장 보호 4. 높은 서지 전류 방전 충격 5. 접합 온도 150 ~ 175 ℃, 우수한 고온 성능 6. 표면에 부식 방지 특성을 지닌 에폭시 패키지

1. 낮은 누설, 서지 저항, 충격에 강한. 2. 대단한 애벌 런치 전압 브레이크 다운 보호 기능. 3. 높은 내열성, PN 접합 온도 피크 130 ℃ 4. 환경 친화적 인 공정, 국제 규격 5. 부식 방지 표면을 가진 에폭시 수지 성형 진공 패키지 사용

제품 설명 조정 가능한 고정밀 및 고전압 안정화 전원 공급 장치, 이온 발생기, 고전압 저항 테스터 (고전압 저항 심사, 유리 유약 저항), 고전압 다이오드 내전압 테스터, 크세논 램프 테스터 0 ~ 2KV / 5KV / 10KV / 20KV HV -20KV-Ⅲ. 1. 응용 분야 : A : 고정밀 고전압 안정화 전원 공급 장치 실험 B : 전기 장비의 절연 저항 시험 C : 고전압 전기 용량 내전압 시험 D : IGBT 시험, 고전압 다이오드 내전압 시험, 누설 전류 시험 E : MOS, BJT , 제어 된 실리콘 다이오드 스크리닝 F : 크세논 램프 테스트 사전 점화 전압 G : 유리 글레이즈 저항 성능 테스트

제품 설명 조정 가능한 고정밀 및 고전압 안정화 전원 공급 장치, 이온 발생기, 고전압 저항 테스터 (고전압 저항 심사, 유리 유약 저항), 고전압 다이오드 내전압 테스터, 크세논 램프 테스터 0 ~ 5KV / 10KV / 20KV / 30KV HV -35KV-Ⅲ. 1. 응용 분야 : A : 고정밀 고전압 안정화 전원 공급 장치 실험 B : 전기 장비의 절연 저항 시험 C : 고전압 전기 용량 내전압 시험 D : IGBT 시험, 고전압 다이오드 내전압 시험, 누설 전류 시험 E : MOS, BJT , 제어 된 실리콘 다이오드 스크리닝 F : 크세논 램프 테스트 사전 점화 전압 G : 유리 글레이즈 저항 성능 테스트

1. 낮은 누설, 낮은 전력 손실, 높은 신뢰성. 2. 우수한 즉각적인 큰 전류 충격 저항 기능. 3. 좋은 반전 눈사태 고장 특징 4. Tj : -40 ℃ - + 120 ℃ 5. 다양한 차원은 선택되거나 주문을 받아서 만들어 질 수있다. 6. 환경 보호? 프로세스, 국제 표준에 부합한다.

1. 예술의 상태 채택 칩 조합? 디자인 2. 낮은 누설 전류, 서지 저항, 충격 저항, 눈사태 브레이크 다운 보호 특성. 3. 다양한 차원을 선택하거나 사용자 정의 할 수 있습니다. 4. 높은 내열성, 150 ℃까지 PN 접합 온도 5. 환경 보호? 프로세스, 국제 표준과 일치